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LCR测试仪 |
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7种测试项目，测试源频率
120HZ |
日本日置HIOKI |
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LCR测试仪 |
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14种测试项目，测试源频
率DC，lmHz～100kHz |
日本日置HIOKI |
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LCR测试仪 |
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14种测试项目，测试源频
率42Hz～5MHz |
日本日置HIOKI |
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LCR测试仪 |
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14种测试项目 ，测试源频
率，100kHz～120MHz |
日本日置HIOKI |
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电容值测试仪 |
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C测试，测试源信号 |
日本日置HIOKI |
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电容测试仪 |
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C,D测试，测试源频率
120Hz,1kHz |
日本日置HIOKI |
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高精密 LCR 测试仪 |
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高精密LCR测试仪 12 ~
200kHz (504 steps) |
台湾固纬Instek |
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高精密 LCR 测试仪 |
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高精密LCR测试仪 12 ~
100kHz (503 steps) |
台湾固纬Instek |
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高精密 LCR 测试仪 |
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高精密LCR测试仪 12 ~
10kHz (489 steps) |
台湾固纬Instek |
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高精密 LCR 测试仪 |
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高精密LCR测试仪 12 ~
2kHz (245 steps) |
台湾固纬Instek |
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数位 IC 测试器 |
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数位IC测试器 |
台湾固纬Instek |
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掌上型数位 IC 测试器 |
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掌上型数位IC测试器 |
台湾固纬Instek |
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掌上型 EPROM Writer |
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类比IC测试器 |
台湾固纬Instek |
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RCL测试仪 |
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自动归零微调,0.25% 的基
本准确度 |
美国福禄克Fluke |
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RCL测试仪 |
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测试频率从 50 Hz 到 1
MHz |
美国福禄克Fluke |
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LCR测试仪 |
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基本精度0.1%,测试频率100、120、1K、10K、100KHz |
美国安捷伦Agilent |
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电容测试仪 |
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高速测量：25ms,快速接触
检查 |
美国安捷伦Agilent |
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电容测试仪 |
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测量速度6.5ms/10ms/21ms |
美国安捷伦Agilent |
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射频LCR测试仪 |
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阻抗测量范围宽，从200mΩ到3kΩ,在低试信号电平上具有优良的测量重复性 |
美国安捷伦Agilent |
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毫欧表 |
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专用电阻表,频率范围仅
1KHz, |
美国安捷伦Agilent |
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